Instrumentació

Temari

Introducció a la instrumentació i tractament de dades

- Principis generals d?un sistema de mesura.

- Característiques estàtiques i dinàmiques d?un sistema de mesura.

- Mesures i la seva incertesa: precisió, exactitud, resolució i sensibilitat. Fonts d?error. Avaluació de la incertesa.

- Teoria d?errors. Propagació.

- Processament i representació de dades. Ajustos i linealització. Calibratge.

Instrumentació electrònica bàsica

- Equips de mesura de magnituds elèctriques. Mesures analògiques i digitals. El multímetre.

- El convertidor A/D: error de quantització i aliasing.

- Equips de mesures en el domini temporal: l?oscil·loscopi.

- Equips de mesures en el domini freq√ľencial: l?amplificador lock-in i l?analitzador l?analitzador d?espectres.

- Mesura de impedància. El impedancìmetre .

- Interferències, soroll i la seva eliminació. Introducció als filtres passius.

Principis físics de la mesura. Sensors

- Estructura i característiques bàsiques d?un sistema de mesura basat en sensors. Classificació de sensors.

- Sensors de resistència variable: sensors potenciomètrics, sensors piezorresistius, detectors de temperatura resistius (RTD), termistors, fotoresistències i magnetoresistències.

- Sensors de reactància variable: condensador variable i diferencial, sensors de reluctància variable, transformadors variables, transformador diferencial de variació lineal (LVDT), sensors basat en electrets.

- Sensors electromagnètics i de efecte Hall. Sensors magnetoelàstics.

- Sensors generadors: termoelèctrics, piezoelèctrics, piroelèctrics i fotovoltaics.

- Altres tipus de sensors.

Introducció a les tècniques experimentals avançades

- Tecnologia de buit, criogènia i altes temperatures.

- Microscòpia amb llum: òptica, fluorescència i confocal.

- Microscòpia de sonda: STM, AFM i variants.

- Microscòpia electrònica: SEM, TEM i tècniques complementàries.

- Espectroscòpies: UV-VIS, FTIR, Raman i XPS

- Difracció: raigs X i neutrons.

Laboratori d'instrumentació virtual amb Labview

Es faran sis sessions de laboratori de dues hores orientats a l?√ļs de Labview com ferramenta d?instrumentaci√≥ virtual i control remot d?instruments.